Archiv Imaging & Microscopy

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Ausgabe: 04/2004 | 03/2004 | 02/2004 | 01/2004

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Ausgabe 03/2004

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Erscheinungsdatum: 18.08.2004

Editorial

Dear Reder

M. Friedrich, GIT VERLAG

Seite 01

News from EMS

EMC 2004

N. Schryvers, University of Antwerp

Seite 10

Event Report

Microscopy Goes North: 4th ELMI Meeting in Gotheburg

J. Rieddorf, T. Zimmermann; EMBL

Seite 12

Scanning 2004 in Washington D.C. - A Hughe Success

P. McGuiness, Scanning

Seite 14

Electron Microscopy

Electron Microscopy Network 3D-EM Gets EU-Framework Support

A. Werenskiold, Max Planck Institut

Seite 16

Electron Tomography: The Next Dimension in Electron Microscopy

D. Nicastro, University of Colorado

Seite 17

Cryo-Electron Tomography in the Era of Structural Proteomics

J. Plitzko, S. Nickell, Max-Planck-Institut

Seite 22

Camera technology

Professional Digital Cameras and Jenoptik

A. Zimmermann, Jenoptik

Seite 26

Scanning

Near-Field Raman Microscopy with 20 nm Resolution

A. Hartschuh, L. Novotny; University of Siegen; University of Rochester

Seite 32

Large Chamber Scanning Electron Microscopes

Wh. Hoeppel, M. Goeken, M. Klein; University of Erlangen-Nürnberg; Visitec Mikrotechnik

Seite 34

Cover Story

Innovative Confocal Laser Scanning Microscope for Live Cell Imaging

Olympus Europa

Seite 36

Image analysis

Virtual Specimen Preperation Replaces Cardboard Model

P. Stallknecht

Seite 44

Automated Image Capture and Analysis

G. Alpert; Havard University

Seite 46

Optical Spherical Aberration Correction

C. Monks; Intelligent Image Innovations

Seite 48

I&M Series: Basics of Light Microscopy and Imaging

Revealing Structure with Contrasct Techniques

Seite 50