Archiv Imaging & Microscopy

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Ausgabe 01/2005

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Erscheinungsdatum: 10.03.2005

Editorial

Instruments Innovations from the Land of the Rising Sun

M. Friedrich

Seite 01

Events

Microscopy Conference

K. Pulfer

Seite 10

FOM 2005, March 20-23, 2005, Jena, Germany

K. König, Fraunhofer Institute of Biomedical Technology; F. Brakenhoff, University of Amsterdam

Seite 11

Event Report

Fifty Years of Scanning Electron Microscopy

H. Ahmed, Master´s Lodge

Seite 12

News from EMS

Dear EMS Member

U. Aebi & N. Schryvers, EMS

Seite 14

Electron Microscopy

The Fracture Behaviour of Polymers - In situ Investigations in the ESEM

A. Zankel, P. Pölt & E. Ingolic, Research Institute for Electron Microscopy; M. Gahleitner & C. Grein, Borealis

Seite 16

Trace Detection by Scanning Electron Microscope

IfG Institut for Scientific Instruments

Seite 19

A Novel STEM Detector System

J.P. Vermeulen & H. Jaksch, Carl Zeiss SMT

Seite 22

Scanning Probe Microscopy

Atomic-Scale Analysis of Nanostructured Materials

A. Cerezo, University of Oxford; P. Clifton, Oxford nanoScience Ltd

Seite 26

Microscope automation

On a (Sub)micrometric Scale by Interferometric Microscopy and Laser Doppler Vibrometry

M. Bossard, Schaefer-Tec

Seite 30

Image analysis

Noise Estimation in Digital X-ray Images

B. Pöllmann, NeuroCheck; K. Sandau, University of Applied Sciences

Seite 32

Cover Story

Environmental Control for Live Cell Imaging

S. Delaney, Solent Scientific Ltd

Seite 40

I&M Series: Basics of Light Microscopy and Imaging

Fluorescence- Part1

M. Davidson, University Florida

Seite 50